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产品分类 |
光谱检测分析仪
日本HORIBA+XploRA PLUS+共聚焦拉曼光谱仪
日本HORIBA+FluoroMax-4+分子荧光光谱仪
德国耶拿+ZEEnit®700P+原子吸收光谱仪
德国耶拿+PQ9000+ICP
德国布鲁克+Q2+直读光谱仪
电化学仪器
科晶+真空CVD系统+ OTF-1200X-HVC
GAMRY+Reference600+腐蚀测试仪
科晶+MSK-AFA-ES200+涂覆机
美国GAMRY+Reference3000+电化学工作站
美国GAMRY+interface1010E+电化学工作站
X射线仪器
德国布鲁克+S1 TITAN+合金分析仪
天瑞+genius9000+土壤分析仪
德国布鲁克+D8+XRD衍射仪
泵
德国普发+Hicube+分子泵组
德国普发+HiPace+分子泵
测量/计量仪器
德国布鲁克+DektakXT+台阶仪
德国普发+PKR+全量程真空计
质谱检测分析仪
德国普发+PrismaPlust+残余气体分析仪
德国普发+ASM340+检漏仪
激光粒度仪
日本horiba+LA350+激光粒度仪
元素分析仪
绘吉+HCS5000+高频红外碳硫
制样/消解设备
进口+匀胶机+Laurell
光学仪器及设备
德国布鲁克+Dimension Edge+原子力显微镜
联系方式 |
产品系列
布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过的TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!
高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供全球保证!
先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率, 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。
技术指标:
Theta/theta 立式测角仪
2Theta角度范围:-110~168°
角度精度:0.0001度
Cr/Co/Cu靶,标准尺寸光管
探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器
仪器尺寸:1868x1300x1135mm
重量:770kg
应用
物相定性分析
结晶度及非晶相含量分析
结构精修及解析
物相定量分析
点阵参数精确测量
无标样定量分析
微观应变分析
晶粒尺寸分析
原位分析
残余应力
低角度介孔材料测量
织构及ODF分析
薄膜掠入射
薄膜反射率测量
小角散射